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Leo
LIBRA 200 FE
Le LIBRA 200 FE OMEGA a été conçu pour des applications de haute résolution en TEM / STEM et EFTEM / EELS. Il fonctionne avec un FEG Schottky en ZrO/W implémenté d’un monochromateur électrostatique, comporte un spectromètre dans la colonne de type OMEGA complètement corrigé en aberration de second ordre et des diaphragmes en sélection d’énergie de 2 à 500 eV.
Il est équipé de détecteurs HAADF, EDS, champ clair et champ sombre en mode STEM, d’une caméra CCD et peut être utilisé avec 4 porte-objets différents (simple tilt, double tilt, double tilt froid et double tilt chauffant).
Quelques caractéristiques :
Résolution point à point : 0.24 nm
Résolution en énergie < 0.2 eV
Taille de sonde : 0.3 nm
Cs = 1.2 mm
Cc = 1.2 mm
- Jeol
4000FX
Source
d’électrons : Pointe en hexaborure de Lanthane (LaB6)
Tension d’accélération : 400kV
Longueur d’onde relativiste des électrons : 0,00164
nm
Coëfficient d’abbération sphérique (Cs)
: 3,4 mm
Résolution point par point : 0,23 nm
Défocalisation de Scherzer : -90 nm
Le microscope est muni d'un spectromètre de pertes d’énergie
PEELS GATAN 666 en bas de la colonne:
Dispersion en énergie par prisme magnétique
Résolution en énergie de 1,8eV à 100keV.
Détection des électrons inélastiques par un
système composé d’un scintillateur (YAG), d’une
fibre optique et d’un réseau linéaire de 1024
photodiodes (aire active totale : 25,4mm x 2,5mm) relié à
une électronique de comptage.
- Philips
CM20
Source d’électrons : Pointe en hexaborure de Lanthane
(LaB6)
Tension d’accélération : 200kV
Longueur d’onde relativiste des électrons : 0,00251
nm
Coëfficient d’abbération sphérique (Cs)
: 2 mm
Résolution point par point : 0,27 nm
Défocalisation de Scherzer : -85 nm
- Jeol
200CX
Ce microscope, doté d’une résolution point à point de 0,35 nm, est utilisé pour l’imagerie jusqu’à des grandissements X 450000 et la diffraction électronique. Il peut être utilisé avec différents porte objets (traction, analytique, chauffant et rotation)
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